XX Юбилейная научно-практическая конференция
с международным участием «Лучевая диагностика и научно-технический прогресс»,
посвященная 90-летию кафедры лучевой диагностики и лучевой терапии
ИКМ имени Н.В. Склифосовского Сеченовского Университета

17-18 октября 2024 года в ОЧНОМ формате состоится XX Юбилейная научно-практической конференция с международным участием «Лучевая диагностика и научно-технический прогресс», посвященная 90-летию кафедры лучевой диагностики и лучевой терапии ИКМ имени Н.В. Склифосовского Сеченовского Университета.

Основная цель проведения конференции — представление современных достижений лучевой диагностики.

Конференция будет интересна специалистам лучевой диагностики, онкологам, рентгенологам, офтальмологам, отоларингологам, стоматологам и челюстно-лицевым хирургам, неврологам, нейрохирургам.

Участие в мероприятии бесплатное.

Для участия необходимо пройти регистрацию на официальном сайте мероприятия https://beam.confreg.org

Будем рады видеть Вас в числе участников мероприятия!

Мы используем файлы cookie для персонализации и повышения удобства использования нашего сайта. Цели использования файлов cookie определены в Политике в отношении обработки персональных данных. Если Вы согласны и дальше использовать файлы cookie, пожалуйста, нажмите кнопку «Принять». Принять